专利
国内专利
| 编号 | 专利号 | 说明 | 注册日期 |
|---|---|---|---|
| 1 | No. 10-1110327 | 半导体测试用插座 | 22012年1月19日 |
| 2 | No. 10-1086278 | 连接器和导电部件 | 2011年11月17日 |
| 3 | No. 10-1131105 | 半导体测试装置 | 2012年3月21日 |
| 4 | No. 10-1193556 | PCB集成测试插座 | 2012年10月16日 |
| 5 | No. 10-1173606 | PCB集成测试插座 | 2012年8月7日 |
| 6 | No. 10-1254180 | 半导体测试用测试插座 | 2013年4月8日 |
海外专利
| 编号 | 专利号 | 说明 | 注册日期 |
|---|---|---|---|
| 9 | No. 10-1131105 | 半导体测试装置 (台湾) | 2014年3月16日 |
| 10 | No. 10-1173606 | 半导体封装 (台湾) | 2014年9月22日 |
| 11 | No. 10-1086278 | 连接器和导电部件 (台湾) | 2012年3月21日 |
设计专利
| 编号 | 专利号 | 说明 | 注册日期 |
|---|---|---|---|
| 12 | No. 10-1086278 | 电连接器外壳 | 2012年12月10日 |
| 13 | No. 10-1086278 | 探针 | 2012年11月21日 |